浙江国微检测技术有限公司（G&W TST）成立于2018年，是浙江省第一家专业提供聚焦离子束技术分析服务的公司，国微检测的骨干工程师在聚焦离子束（Focused Ion Beam，FIB）应用和FA失效分析等技术领域有着多年的丰富经验。专注于聚焦离子束应用技术在IC芯片线路修补以及FA失效分析领域的技术应用及拓展。利用我们的技术背景与团队，公司致力于为IC设计公司、科研院所以及生产厂商提供快速且专业的芯片检测分析服务，服务项目包括：芯片线路修补、失效分析、快速封装等。我们的服务将为IC芯片设计、IC制造、材料研发缩短研发时间，降低研发制造成本，增加产品的成品率。