直拉硅单晶是微电子和光伏产业的基础材料, 数十年来,国内外通常认为: 直拉硅单晶生长时除了掺杂剂以外应尽量避免其它杂质的引入, 这样才能提高硅晶体质量以及器件的性能。而本项目在国际上首先提出"有意掺入微量锗杂质来调控直拉硅单晶中缺陷"的新思路, 发明了微量掺锗直拉硅单晶及系列技术。其主要创新点如下: 1. 发明了微量掺锗直拉硅单晶,实现了直径150-300 mm掺锗直拉硅单晶的生长。系统研究了微量掺锗能抑制空洞型缺陷等规律, 提出了调控直拉硅单晶中缺陷的"杂质工程"的新概念。2. 发明了微量掺锗直拉硅单晶的外延、 吸杂等微电子器件相关的技术, 实现其在微电子产业中的应用。利用掺锗实现重掺直拉硅单晶的晶格畸变补偿, 制备了无失配位错的厚外延片。发明的吸杂工艺使掺锗硅片在近表面形成无缺陷区, 在体内形成高密度的吸杂点, 能有效吸除有害金属。3. 发明了微量掺锗直拉硅单晶的低光衰减、 薄片化等太阳能电池相关的技术, 实现其在光伏产业中的应用。通过掺锗抑制直拉硅单晶中硼-氧复合体的产生, 使太阳能电池效率的光衰减降低了13%以上。掺锗提高硅片的机械强度, 其碎片率降低约25%。项目获中国发明专利10项, 美国发明专利1项, 获"第十三届中国专利优秀奖"1项, 技术水平国际领先。在SOMAT等国外期刊上发表SCI论文46篇, 约占国际同类论文的52%。自2007年以来, 项目形成了系列产品, 在微电子和光伏产业获得大规模应用。近3年新增微量掺锗直拉硅单晶销售12.1亿元, 利税2.02亿元。
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