材料分析检测 联系人： 市场部 电话： 0512-62800006 邮件： sales-cn@wintech-nano.com 收费标准： 10.00 至 10000.00 服务描述： 3 Point Bend (三点弯折) AFM (原子力显微镜) AFM CAFM (导电式原子力显微镜) AFM Nanoindentation (纳米压痕 ) AFM SCM (扫描式电容显微镜) Auger Depth Profile (俄歇能谱 深度分析 (3元素 30步)) Auger Surface Scan (俄歇能谱 表面) Drop Test (跌落试验 一般件) D-SIMS (二次离子质谱 ) Film Stress (薄膜应力) Four Point Probe (四探针 ） FTIR (傅里叶红外光谱) FTIR-Microscope (傅里叶红外光谱 微区显微) Nano Scratch (纳米划痕) Nanoindentation (纳米压痕 ) Raman (拉曼光谱) ROHS2.0 十项测试 Salt Spray 盐雾实验 SIMS 样品制备 Solderability (可焊性 沾锡试验) SRP (扩展电阻测试) TOF-SIMS Depth Profile (飞行时间二次离子质谱 ) TXRF (全反射X射线荧光光谱 单源) XPS Depth Profile (X光电子能谱分析 ) XRD (X射线衍射) XRF (X射线荧光光 能谱)