场发射扫描电镜 分类编码： 010102 英文名称： Field emission scanning electron microscope 规格型号： SU-8010 分　　类： 分析仪器 所属单位： 材料科学与工程学院 仪器原值： 253.42(万元) 启用日期： 2014/5/5 生产厂商： 日本株式会社 产地国别： 日本 技术指标： 分辨率：1.0 nm（15 kV）、1.3 nm（1 kV）  测试电压：0.1keV ~ 30keV  最高放大倍数：30～40万倍  样品要求：干燥、无磁性、尺寸小于25×25×10cm。 功能及应用领域： 主要用于材料的显微结构分析和材料元素的定性和半定量分析，材料范围包括：（1）生物：种子、花粉、细菌等；（2）医学：血球、病毒等；（3）动物：大肠、绒毛、细胞、纤维等；（4）材料：陶瓷、高分子、粉末、环氧树脂等；（5）化学、物理、地质、冶金、矿物、污泥（杆菌）、机械、电机及导电性样品，如半导体(IC、线宽量测、断面、结构观察……）电子材料等。 仪器联系人： 杨清华 联系人电话： 13567195201 邮政编码： 310018 电子邮件： qinghuayang@cjlu.edu.cn 参考收费标准： 校外：500元/小时 校外：300元/小时