集成电路高温老化系统
规格型号：
BTI-3000N
所属单位：
中科院嘉兴中心微系统所分中心
技术指标：
GJB548（等同MIL-STD-883）、GJB 597（等同MIL-M-38510）
功能及应用领域：
适用范围：适用于对各种数字、模拟、数模混合集成电路和SOC电路、微处理器、存储器等微 电子电路进行高温动态老化试验。
联系人电话：
张彦江
开放机时安排：
每个工作日