双束聚焦离子束微纳加工仪 分类编码： 011299 英文名称： 无 规格型号： Quata 3D FEG 分　　类： 分析仪器 所属单位： 浙江大学电镜中心 仪器原值： 446.00(万元) 启用日期： 2011/12/9 生产厂商： FEI 产地国别： 德国 技术指标： 30KV,30KV/1.2nm,7nm 功能及应用领域： 聚焦离子束技术（FIB）是一种集形貌观测、定位制样、成分分析、薄膜淀积和无掩膜刻蚀各过程于一身的新型微纳加工技术。聚焦的离子束在半导体行业有着重要作用，可用来切割纳米级结构，对光刻技术中的屏蔽板进行修补，分离和分析集成电路的各个元件，激活由特殊原子组成的材料，使其具有导电性等等。它可用来分析样品化学成分、进行生物研究以及制造保持血管畅通的心脏固定膜等微型医学植入材料。其基本功能可概括为: 定点切割, 选择性的材料蒸镀,强化性蚀刻或选择性蚀刻, 蚀刻终点侦测。在透射电镜试样制作方面，聚焦离子束显微镜是一个优 仪器联系人： 王老师 联系人电话： 0571-87953722 邮政编码： 310000 电子邮件： yawang@zju.edu.cn 参考收费标准： 按学校有关标准