光谱型椭偏仪 分类编码： 010499 英文名称： Spectroscopic Ellipsometer 规格型号： M-2000DI 分　　类： 分析仪器 所属单位： 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 仪器原值： 85.82(万元) 启用日期： 2008/6/30 生产厂商： J.A.Woollam公司 产地国别： 美国 安放地址： 浙江省宁波市镇海区庄市大道519号 技术指标： 波长范围：190~1700 nm 光谱分辨率：1.6 nm（波长小于1000 nm）；3.7 nm（波长大于1000 nm） 自动入射角范围：45~900 自动样品台：150 mm*150 mm 旋转补偿器，Ψ可测范围0~900，Δ可测范围0~3600 功能及应用领域： 用于单层或多层薄膜的厚度和光学常数的测定，广泛应用于物理、化学、材料、生物、高分子、复合材料、纳米材料等领域的研究。 仪器联系人： 梁凌燕 联系人电话： 0574-86688153 邮政编码： 315201 电子邮件： lly@nimte.ac.cn 开放机时安排： 每周一至周五8：30-17：30 参考收费标准： 300元/样