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椭圆偏振光谱仪 |
分类编码: | 990000 | 英文名称: | Ellipsometric spectrometer | 规格型号: | GES 5E | 分 类: | 其他仪器 | 所属单位: | 浙江大学材料科学与工程学院 | 仪器原值: | 145.00(万元) | 启用日期: | 2011/12/13 | 生产厂商: | Semilab | 产地国别: | 美国 | 技术指标: | 测量光谱190nm~2100nm | 功能及应用领域: | 椭圆偏振光谱仪可以实现无损探测大块材料、薄膜以及平面基底上生长或沉积的多层复杂结构的折射率、消光系数、薄膜厚度,并在此基础上实现多层膜厚度、材料梯度、表面与界面粗糙度、结晶度、组分、材料的各向异性、表面形貌等的测量 | 仪器联系人: | 刘老师 | 联系人电话: | 0571-87951842 | 邮政编码: | 310000 | 电子邮件: | liuyong.mse@zju.edu.cn | 参考收费标准: | 按学校有关标准 |
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