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| PL-mapping |
| 分类编码： | 030707 | | 英文名称： | PL-mapping | | 规格型号： | M200 | | 分 类： | 计量仪器 | | 所属单位： | 浙江师范大学 | | 仪器原值： | 142.00(万元) | | 启用日期： | 2011/4/1 | | 生产厂商： | Galaxia Photonics Co. LTD | | 产地国别： | 韩国 | | 技术指标： | 扫描尺寸：2寸 扫描精度：0.1mm | | 功能及应用领域： | 测量半导体薄片性能 | | 仪器联系人： | 寇建龙 | | 联系人电话： | 0579-82297912 | | 邮政编码： | 321004 | | 电子邮件： | kjl@zjnu.cn | | 参考收费标准： | 50元每篇 |
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