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| 超大规模集成电路测试系统 |
| 分类编码： | 040106 | | 英文名称： | Teradyne Integra J750 | | 规格型号： | Teradyne J750 | | 分 类： | 电子测量仪器 | | 所属单位： | 杭州国家集成电路设计产业化基地有限公司 | | 仪器原值： | 203.95(万元) | | 启用日期： | 2006/11/16 | | 生产厂商： | Teradyne | | 产地国别： | 美国 | | 技术指标： | 测试操作系统IG-XL（支持离线操作）、192个数字测试通道（数据速率100MHz，向量深度8M LVM，SCAN扫描）、混合信号测试选件MSO（ASIO&DSIO） | | 功能及应用领域： | 集成电路芯片测试 | | 仪器联系人： | 胡颖蔚 | | 联系人电话： | 86726360 | | 邮政编码： | 310053 | | 电子邮件： | huyw@hicc.org.cn | | 参考收费标准： | 400元每小时 |
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