C-V测试仪 分类编码： 040599 英文名称： C-V 规格型号： 495 分　　类： 电子测量仪器 所属单位： 杭州士兰集成电路有限公司 仪器原值： 120.00(万元) 启用日期： 2005/5/1 生产厂商： SOLID STATE MESUREMENT.INC 产地国别： 美国 安放地址： 杭州士兰集成电路 技术指标： N型硅片的测试范围为：0.1～100Ω.cm；P型硅片的测试范围为：0.24～330Ω.cm 功能及应用领域： 用于监测氧化层质量（阀值电压Vth；平带电压Vfb；氧化层电容Cox; 氧化层电荷数Neff）。此外，对于栅极下面沟道区的B、P、As注入剂量 仪器联系人： 程宏亮 联系人电话： 0571-86714088-7812 电子邮件： 开放机时安排： 周一至周五 参考收费标准： 面议