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膜厚仪 |
分类编码: | 029900 | 英文名称: | Opti-Probe | 规格型号: | OP 2690/ OP 3260 | 分 类: | 物理性能测试仪器 | 所属单位: | 杭州士兰集成电路有限公司 | 仪器原值: | 280.00(万元) | 启用日期: | 2002/12/26 | 生产厂商: | TENCOR | 产地国别: | 美国 | 安放地址: | 杭州士兰集成电路 | 技术指标: | 对于薄的膜层测试精度±1 ?,对于厚的膜层测试精度±2 ? | 功能及应用领域: | 测试各种膜质和膜层的膜厚,折射率,消光系数 | 仪器联系人: | 程宏亮 | 联系人电话: | 0571-86714088-7812 | 电子邮件: | | 开放机时安排: | 周一至周五 | 参考收费标准: | 面谈 |
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