场发射透射电子显微镜 分类编码： 010101 英文名称： Field emission transmission electron microscope 规格型号： TecnaiG2F20S-TWIN/含X射线能谱仪 分　　类： 分析仪器 所属单位： 材料科学与工程学院 仪器原值： 600.00(万元) 启用日期： 2017/12/19 生产厂商： FEI 产地国别： 美国 技术指标： 加速电压：80～3000kV  分辨率：点分辨率为0.2～0.35nm、线分辩率为0.1~0.2nm  最高放大倍数：30～100万倍  样品要求：干燥、无磁性、块体样品直径小于3mm，厚度小于100nm 功能及应用领域： 主要用于材料微区的组织形貌观察、晶体缺陷分析和晶体结构测定，以及元素的定性和半定量分析，材料范围包括：（1）生物：种子、花粉、细菌等；（2）医学：血球、病毒等；（3）动物：大肠、绒毛、细胞、纤维等；（4）材料：陶瓷、高分子、粉末、环氧树脂等；（5）化学、物理、地质、冶金、矿物、污泥（杆菌）、机械、电机及导电性样品，如半导体(IC、线宽量测、断面、结构观察……）电子材料等。 仪器联系人： 雷磊 联系人电话： 15857110543 邮政编码： 310018 电子邮件： 13a0502093@cjlu.edu.cn 参考收费标准： 无