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X衍射仪 |
分类编码: | 010301 | 英文名称: | X diffractometer | 规格型号: | PW-170 | 分 类: | 分析仪器 | 所属单位: | 余姚中国塑料城塑料研究院有限公司 | 仪器原值: | 300.00(万元) | 启用日期: | 2013/3/1 | 生产厂商: | 荷兰 | 产地国别: | 荷兰 | 技术指标: | 角度重现性,±0.0001o;测角准确度,0.0025o;探测器最大技术率,>4×106 cps;99%线性范围,>106 cps;最小背景,<0.2 cps;小角粒度测量范围,(0~300)nm | 功能及应用领域: | 可进行粉末及薄膜样品的晶体结构分析,物相鉴定(物相定性、定量分析),相变分析,结晶度测定等。此外,还可进行小角散射纳米粒度测定、应力测定、织构测定等。 | 仪器联系人: | 佘进娟 | 联系人电话: | 0574-62522582 | 邮政编码: | 315400 | 电子邮件: | slyjysjj@163.com | 参考收费标准: | 1000元/批 |
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