透射电子显微镜 分类编码： 010101 英文名称： Transmission Electron Microscope 规格型号： JEM-2100F 分　　类： 分析仪器 所属单位： 浙江师范大学 仪器原值： 855.00(万元) 启用日期： 2011/1/4 生产厂商： 日本电子株式会社(JEOL) 产地国别： 日本 技术指标： 点分辨率：0.19nm;线分辨率：0.14nm；加速电压：200kv;倾斜角：25；STEM分辨率：0.20nm;放大倍数50-1500000；能谱分析元素范围5B-92U。 功能及应用领域： JEM-2100F场发射透射电子显微镜系日本电子株式会社产品，具有透射（TEM）、会聚束衍射（CBED）及纳米束衍射（NBD）等工作模式，并可与能谱仪联机，进行样品成分分析。其主要功能： 1）利用质厚衬度（又称吸收衬度）像，对样品进行一般形貌观察。 2）利用电子衍射、微区电子衍射、会聚束电子衍射等技术对样品进行物相分析，从而确定材料的物相、晶系，甚至空间群。 3）利用高分辨电子显微技术可直接“看”到晶体中原子或原子团在特定方向上的结构投影，确定晶体结构。 4）利用衍衬像和高分辨电子显微像技术，观察晶体中存在的结构缺陷，确定缺陷的种类，估算缺陷密度。表征纳米结构的有序组装。 5）利用所附加的能量色散X射线谱仪或电子能量损失谱仪对样品的微区化学成分进行分析。 6）利用带有扫描附件和能量色散X射线谱仪，对样品中的元素分布进行分析，确定样品中是否有成分偏析。 仪器联系人： 涂高美 联系人电话： 0579-82282234 邮政编码： 321004 电子邮件： tugaomei@zjnu.cn 参考收费标准： (所有计费以0.5h为计费单元)500元/小时，单个样品测试时间未超过0.5小时，按250元/样计算；能谱（EDX）+100元/样；Mapping：500元/样/次；周末（假期）：1500元/天（8:00-17:00只针对原位测试使用）；