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透射电子显微镜
分类编码:010101
英文名称:Transmission Electron Microscope
规格型号:JEM-2100F
分  类:分析仪器
所属单位:浙江师范大学
仪器原值:855.00(万元)
启用日期:2011/1/4
生产厂商:日本电子株式会社(JEOL)
产地国别:日本
技术指标:点分辨率:0.19nm;线分辨率:0.14nm;加速电压:200kv;倾斜角:25;STEM分辨率:0.20nm;放大倍数50-1500000;能谱分析元素范围5B-92U。
功能及应用领域:JEM-2100F场发射透射电子显微镜系日本电子株式会社产品,具有透射(TEM)、会聚束衍射(CBED)及纳米束衍射(NBD)等工作模式,并可与能谱仪联机,进行样品成分分析。其主要功能: 1)利用质厚衬度(又称吸收衬度)像,对样品进行一般形貌观察。 2)利用电子衍射、微区电子衍射、会聚束电子衍射等技术对样品进行物相分析,从而确定材料的物相、晶系,甚至空间群。 3)利用高分辨电子显微技术可直接“看”到晶体中原子或原子团在特定方向上的结构投影,确定晶体结构。 4)利用衍衬像和高分辨电子显微像技术,观察晶体中存在的结构缺陷,确定缺陷的种类,估算缺陷密度。表征纳米结构的有序组装。 5)利用所附加的能量色散X射线谱仪或电子能量损失谱仪对样品的微区化学成分进行分析。 6)利用带有扫描附件和能量色散X射线谱仪,对样品中的元素分布进行分析,确定样品中是否有成分偏析。
仪器联系人:涂高美
联系人电话:0579-82282234
邮政编码:321004
电子邮件:tugaomei@zjnu.cn
参考收费标准:(所有计费以0.5h为计费单元)500元/小时,单个样品测试时间未超过0.5小时,按250元/样计算;能谱(EDX)+100元/样;Mapping:500元/样/次;周末(假期):1500元/天(8:00-17:00只针对原位测试使用);