场发射环境扫描电镜及能谱仪 分类编码： 010102 英文名称： Scanning Electron Microscope 规格型号： Quanta FEG650 分　　类： 分析仪器 所属单位： 浙江大学 仪器原值： 234.22(万元) 启用日期： 2011/12/27 生产厂商： FEI 产地国别： 荷兰 技术指标： 分高真空、高真空下减速模式、低真空、环境真空模式，最高分辨率≤1.0nm。 最大放大倍数不得少于X800000，二次电子检测器，样品台尺寸XY水平方向0~50mm,竖向Z不得少于30mm。 功能及应用领域： 用于观察材料表面的微细形貌、断口及内部组织，并对材料表面微区成分进行定性和定量分析，主要用途如下： 1. 金属、 陶瓷、混凝土、生物、高分子、矿物、纤维等无机或有机固体材料的断口、表面形貌、变形层等的观察； 2. 材料的相分布和夹杂物形态成分的鉴定； 3.金属镀层厚度及各种固体材料膜层厚度的测定 仪器联系人： 彭宇 联系人电话： 18368179187 邮政编码： 310000 电子邮件： zjupengyu@zju.edu.cn 参考收费标准： 校内：320元/小时；校外：700元/小时（收费管理小组第七十八次会议）