FEI多用途扫描电镜 英文名称： Scanning Electron Microscope 规格型号： FEI Quanta x50 所属单位： 江苏警官学院 仪器原值： 198.00(万元) 启用日期： 2017/5/11 生产厂商： 美国FEI 产地国别： USA.美国 安放地址： 中国,江苏省,南京市,浦口区 技术指标： （1）成像模式分为二次电子像、背散射电子像、特征X射线等； （2）放大倍数：100×~150,000×； （3）加速电压：0.2-30 kV 功能及应用领域： （1）可以在各种环境下非破坏性地分析测定各种物质的形态及成份的现代分析； （2）可对各种物质进行定性分析、元素组成及分布分析。 仪器联系人： 吴祺昶 联系人电话： 025-85485877