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电容.器件老化系统 |
分类编码: | 120304 | 英文名称: | | 规格型号: | BTD-800N BTC-800N | 分 类: | 工艺实验设备 | 所属单位: | 中科院嘉兴中心微系统所分中心 | 仪器原值: | 30.00(万元) | 启用日期: | 2006/1/8 | 生产厂商: | 德国 | 产地国别: | 0101 | 安放地址: | | 技术指标: | BTD-800N:VB电源电压:0-15V,电流:0-60A及VC电源电压:0-60V,电流:0-15A(可根据用户要求配置)BTC-800N:试验温度:室温至150℃任意值 | 功能及应用领域: | 适用于对各种中/小功率三极管、二极管、场效应管、可控硅、三端稳压器、电阻器等进行稳态功率老化试验和间歇(热疲劳)寿命试验。适用于对各种数字、模拟、数模混合集成电路和SOC电路、微处理器、存储器等微 电子电 | 仪器联系人: | 张彦江 | 联系人电话: | 0573-82585210 | 电子邮件: | | 开放机时安排: | 正常工作日 | 参考收费标准: | 具体协商 |
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