X射线光电子能谱仪 分类编码： 010303 英文名称： X-ray Photoelectron Spectroscopy 规格型号： Kratos AXIS Ultra DLD 分　　类： 分析仪器 所属单位： 浙江工业大学分析测试中心 仪器原值： 551.87(万元) 启用日期： 2008/7/1 生产厂商： 日本岛津-KRATOS公司 产地国别： 日本 安放地址： 朝晖六区 技术指标： 1.XPS， 能量分辨率：0.48eV/(Ag 3d5/2） 0.68eV/(C 1s) ， 最小分析区域（收谱） <15μm ，灵敏度：大面积 11，800kcps，110μm 1，800kcps，27μm 100kcps， 成像空间分辨率：小于3μm， 2.UPS ，能量 功能及应用领域： 主要用于固体材料的表面元素成份及价态的定性、半定量分析，固体表面元素组成的深度剖析及成像。可应用于金属、无机材料、催化剂、聚合物、涂层材料矿石等各种材料的研究，以及腐蚀、摩擦、润滑、粘接、催化、包覆、 仪器联系人： 周环，余祎 联系人电话： 88871096 邮政编码： 310014 电子邮件： huanzhou@zjut.edu.cn 开放机时安排： 8:00-11:30,2:00-5:00 参考收费标准： 具体见分析测试中心收费标准