半自动探针台 |
英文名称: | Probe Tester | 规格型号: | SUMMIT 12000b-S | 所属单位: | 江苏物联网研究发展中心 | 仪器原值: | 92.50(万元) | 启用日期: | 2015/4/1 | 生产厂商: | Cascade | 产地国别: | USA.美国 | 安放地址: | 中国,江苏省,无锡市,惠山区 | 技术指标: | X-Y行程:203mm×203 mm X-Y分辨率:±1um X-Y重复性:≤2um X-Y定位精度:≤2.5um X-Y移动速率:>50mm/sec Z轴起落间距:5mm Z轴起落分辨率:1um Z轴起落重复率:≤1um | 功能及应用领域: | 在片测试探针系统,为MEMS或IC芯片的晶圆级测试提供自动化平台,能满足200mm和150mm晶圆的测试需求。 | 仪器联系人: | 吴祺昶 | 联系人电话: | 025-85485877 |
|