光学椭偏仪 英文名称： Optical ellipsometer 规格型号： RC2-UI 所属单位： 苏州市计量测试研究所 仪器原值： 119.65(万元) 启用日期： 2016/12/5 生产厂商： J.A. Woollam 产地国别： USA.美国 安放地址： 中国,江苏省,苏州市,虎丘区 技术指标： 波长λ：210nm～1690nm，椭偏角Ψ： 0°~90°，椭偏角Δ： 0°180°。 功能及应用领域： 用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量,采用双旋转补偿技术，可测量穆勒矩阵的全部16个元 仪器联系人： 吴祺昶 联系人电话： 025-85485877