超高分辨热场发射扫描电镜 分类编码： 010102 英文名称： Scanning Electron Microscope 规格型号： SU-70 分　　类： 分析仪器 所属单位： 宁波大学 仪器原值： 284.00(万元) 启用日期： 2011/12/19 生产厂商： 日本日立 产地国别： 0101 安放地址： 风华路818号 技术指标： SE分辨率: 1.0nm （15kV,工作距离4.0mm） 1.6nm （1kV 减速模式下） 2.5nm （1kV，工作距离1.5mm） 放大倍数： 低倍模式：20 ～2,000× 高倍模式：100～800,000× 功能及应用领域： 观察材料表面的微细形貌、断口及内部组织，并对材料表面微区成分进行定性和定量分析。 仪器联系人： 王军 联系人电话： 0574-87600952 电子邮件： 开放机时安排： 工作日 参考收费标准：