冷场发射扫描电子显微镜 分类编码： 010102 英文名称： Cold Field Scanning electron microscope 规格型号： SU-8010 分　　类： 分析仪器 所属单位： 浙江大学 仪器原值： 350.60(万元) 启用日期： 2015/12/16 生产厂商： 日本日立公司 产地国别： 日本 技术指标： 发射扫描电子显微镜 分辨率: 1.0nm/15kV，1.3nm/1kV 加速电压：0.1~30kV，0.1kV/步 放大倍数：20~1,000,000倍，连续可调 电子枪：冷场发射或热场发射型 检测器：高低位检测器可选择接收二次电子像或背散射电子像，扫描透射 检测器可接收透射电子像 样品台：5轴马达驱动；最大样品直径100mm 真空系统：磁悬浮涡轮分子泵、离子泵无油真空系统，防污染冷阱 附件：X射线能谱仪：大面积（80mm2）分析级SDD探头，MnK分辨率129eV； 元素分析范围B~U 冷冻样品台系统 功能及应用领域： 察动植物及其他固体样品表面显微结构和形貌，如昆虫触角感觉器的微孔气体分子通道、植物细胞壁上的蛋白颗粒、微生物形态结构，配备超低温冷冻样品台可以观察不进行预处理的含水、含油生物样品，获得常温条件下难以得到的观察结果，是研究动植物材料表面结构与功能关系的有效工具，同时还能对金属、无机非金属、高分子材料、纳米材料等表面超微结构形貌进行分析。 仪器联系人： 周文军 联系人电话： 13575719628 邮政编码： 310012 电子邮件： wenjunzhou@zju.edu.cn 参考收费标准： 200/样