场发射扫描电子显微镜 |
分类编码: | 010102 | 英文名称: | Field Emission Scanning Electron Microscope | 规格型号: | S-4800 | 分 类: | 分析仪器 | 所属单位: | 浙江大学高分子科学与工程学系 | 仪器原值: | 237.00(万元) | 启用日期: | 2011/3/23 | 生产厂商: | 日本日立公司 | 产地国别: | 中国 | 技术指标: | 冷场发射扫描电镜/能谱 | 功能及应用领域: | 该仪器具有超高分辨率,能做各种固态样品表面形貌的二次电子象、反射电子象观察及图像处理。配备高性能X射线能谱仪,能同时进行样品表层的微区点线面元素的定性、半定量及定量分析,具有形貌、化学组分综合分析能力。 | 仪器联系人: | 沈老师 | 联系人电话: | 0571-87953712 | 邮政编码: | 310000 | 电子邮件: | shenlie@zju.edu.cn | 参考收费标准: | 按学校有关标准 |
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