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| 台式扫描电子显微镜 |
| 分类编码: | 010102 | | 英文名称: | Scanning Electron Microscope | | 规格型号: | Phenom XL | | 分 类: | 分析仪器 | | 所属单位: | 浙江大学航空航天学院 | | 仪器原值: | 75.98(万元) | | 启用日期: | 2018/12/19 | | 生产厂商: | Phenom-World BV | | 产地国别: | 荷兰 | | 技术指标: | 测试精度可以达到14nm | | 功能及应用领域: | 主要用于对各种样品表面进行高分辨形貌观察,提供样品亚微米、 纳米尺寸的高分辨图像,主用于表征金属材料、非金属材料、功能材料、高分子材料 及微纳米器件等材料的微观形貌。 | | 仪器联系人: | 宋吉舟 | | 联系人电话: | 18757118983 | | 邮政编码: | 310027 | | 电子邮件: | jzsong@zju.edu.cn | | 参考收费标准: | 校内:100元/样;校外:200元/样[浙大校办(2000)18号] |
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