扫描电子显微镜 英文名称： scanning electron microscope 规格型号： S-3400N Ⅱ 所属单位： 江苏师范大学 仪器原值： 139.60(万元) 启用日期： 2008/1/1 生产厂商： 日本日立公司 产地国别： JPN.日本 安放地址： 中国,江苏省,徐州市,铜山区 技术指标： 放大倍数：5至30万倍； 二次电子分辩率：3 nm at 30kV(高真空模式)； 10 nm at 3kV (高真空模式)； 背散射分辨率：4 nm at 30kV (低真空模式)。 功能及应用领域： 高分辨率；高低变真空；可采集二次电子图像和背反射电子图像，实时显示两个图像，也具有实时全屏显示图像的功能；具有五轴马达台，倾斜角度可达-20度~+90度；真空系统使用涡轮分子泵，机械泵采用最先进的干泵，系统污染降低到最小程度； 仪器联系人： 吴祺昶 联系人电话： 025-85485877