扫描电子显微镜 英文名称： scanning electron microscope 规格型号： Hitachi S-3400N SEM 所属单位： 南通大学 仪器原值： 122.87(万元) 启用日期： 2012/12/26 生产厂商： 日本日立 产地国别： JPN.日本 安放地址： 中国,江苏省,南通市,崇川区 技术指标： 二次电子分辨率 3.0nm（高真空，30kV） 背散射电子分辨率 4.0nm（低真空：60Pa，30kV） 倍率 5 ~ 300,000倍 加速电压 0.3~30 kV 样品台 X  0~80mm Y  0~40mm Z  5~50mm T  -20~80mm R 360° 样平台控制 手动（可选：2轴马达） 最大载入样品尺寸 直径：153mm 最大观察范围 直径：126mm（XYR并用） 最大样品高度 60mm (WD=15mm) 低真空范围 6-270Pa（从菜单设定） 灯丝 预对中钨灯丝 物镜光阑 功能及应用领域： (1)生物：种子、花粉、细菌…… (2)医学：血球、病毒…… (3)动物：大肠、绒毛、细胞、纤维…… (4)材料：陶瓷、高分子、粉末、环氧树脂…… (5)化学、物理、地质、冶金、矿物、污泥(杆菌) 、机械、电机及导电性样品，如半导体(IC、线宽量测、断面、结构观察……)电子材料等。 仪器联系人： 吴祺昶 联系人电话： 025-85485877