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直流磁化特性评价系统 |
分类编码: | 019900 |
英文名称: | Scanning probe microscope |
规格型号: | *-SK110 |
分 类: | 分析仪器 |
所属单位: | 浙江省塑料改性与加工技术研究重点实验室 |
仪器原值: | 95.00(万元) |
启用日期: | 2012/4/5 |
生产厂商: | 美国BRUKER公司 |
产地国别: | 美国 |
技术指标: | X-Y方向扫描范围: 90μm x 90μm(典型值),85μm(最小值)。 Z方向扫描范围: 10μm(典型值), 9.5μm(最小值)。纵向噪音水平: <50pm RMS值(在合适的环境,典型的成像带宽条件下(最高可达625Hz))。 XY方向闭环噪音水平: <0.5nm RMS值(在典型的成像带宽条件下(最高可达625Hz))。 Z方向闭环噪音水平: <0.2nm RMS值(在典型的成像带宽条件下(最高可达625Hz))。 样品尺寸和固定方式: 150mm直径,真空吸附,15mm厚; 可选择垫块的情况下,最高可达40mm厚。 光学系统: 5百万像素数字摄像头; 180μm至1465μm可视区域; 数字化缩放,马达驱动聚焦。 单点谱线:三轴闭环控制可实现point-and-shoot式定位和谱线测量;内置了热调谐方式的弹性常数校准功能。 AFM 模式:接触模式,横向力显微镜,轻敲模式等。 |
功能及应用领域: | "X-Y方向扫描范围: 90μm x 90μm(典型值),85μm(最小值)。 Z方向扫描范围: 10μm(典型值), 9.5μm(最小值)。纵向噪音水平: <50pm RMS值(在合适的环境,典型的成像带宽条件下(最高可达625Hz))。 XY方向闭环噪音水平: <0.5nm RMS值(在典型的成像带宽条件下(最高可达625Hz))。 Z方向闭环噪音水平: <0.2nm RMS值(在典型的成像带宽条件下(最高可达625Hz))。 样品尺寸和固定方式: 150mm直径,真空吸附,15mm厚; 可选择垫块的情况下,最高可达40mm厚。 光学系统: 5百万像素数字摄像头; 180μm至1465μm可视区域; 数字化缩放,马达驱动聚焦。 单点谱线:三轴闭环控制可实现point-and-shoot式定位和谱线测量;内置了热调谐方式的弹性常数校准功能。 AFM 模式:接触模式,横向力显微镜,轻敲模式等。 " |
仪器联系人: | 杨晋涛 |
联系人电话: | 88320392 |
邮政编码: | 310014 |
电子邮件: | yangjt@zjut.edu.cn |
参考收费标准: | 150元/样 |