冷场场发射扫描电子显微镜 分类编码： 010102 英文名称： field emission scanning electron microscop(FE-SEM) 规格型号： JSM-6700F 分　　类： 分析仪器 所属单位： 温州大学 仪器原值： 246.57(万元) 启用日期： 2004/12/14 生产厂商： 日本电子 产地国别： 日本 技术指标： 1.二次电子分辨率：1.0nm（加速电压15kV） 2.2nm (加速电压1kV) 2.放大倍数：低倍模式：×25~×19000 高倍模式：×100~×650000 3.加速电压：0.5~20kV 4.电流：0~15mA 5.扫描模式：SEI、LEI、COMPO等 功能及应用领域： 各类材料（金属、皮革、陶瓷、玻璃、纤维、生物等）微观形貌分析，纳米材料显微结构、尺寸分析，材料微结构、相组成及相分布分析，材料中元素定性分析、定量分析、线分析、面分析、材料失效分析等。 仪器联系人： 张景峰 联系人电话： 057786689639 邮政编码： 325006 电子邮件： zhjf1979@126.com 参考收费标准： 详见对外收费标准