扫描探针显微镜 英文名称： scanning probe microscope 规格型号： Multimode 8 所属单位： 苏州科技大学 仪器原值： 94.00(万元) 启用日期： 2015/4/30 生产厂商： Bruker(布鲁克（北京）科技有限公司) 产地国别： USA.美国 安放地址： 中国,江苏省,苏州市,虎丘区 技术指标： 系统可实现接触模式、轻敲模式、智能扫描模式、相位成像、STM、磁力显微镜、电场力显微镜、表面电势、压电响应以及扭矩共振、纳米刻蚀等模式及功能。配备两个扫描器，扫描范围X/Y分别不小于100um和10um，系统噪音水平：X/Y方向小于0.2nm，Z方向小于0.03nm。配防震平台，能持续稳定实现原子像测量。 功能及应用领域： 扫描探针显微镜系统可检测样品的表面形貌，微区磁、电性能，其分辨率可达纳米甚至亚纳米量级。SPM还可实现单原子操控及纳米刻蚀，是研究和制备微纳器件的必备工具。 仪器联系人： 吴祺昶 联系人电话： 025-85485877