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半导体参数测试仪 |
分类编码: | 040502 | 英文名称: | Semiconductor Characterization System | 规格型号: | 4200A-SCS | 分 类: | 电子测量仪器 | 所属单位: | 浙江大学航空航天学院 | 仪器原值: | 46.98(万元) | 启用日期: | 2017/12/7 | 生产厂商: | 泰克科技有限公司 | 产地国别: | 美国 | 技术指标: | C-V/I-V4通道开关自动在I-V测量和C-V测量之间切换 | 功能及应用领域: | 半导体参数仪可以对器件和材料的C-V,I-V参数分析,支持新型半导体器件、新型纳米结构、纳米电子的电学性能进行相关测试分析 | 仪器联系人: | 宋吉舟 | 联系人电话: | 18757118983 | 邮政编码: | 310027 | 电子邮件: | jzsong@zju.edu.cn | 参考收费标准: | 校内:40元/样;校外:80元/样(收费管理小组八十九次会议通过) |
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