扫描式电子显微镜 英文名称： Scanning Electron Microscope 规格型号： Quanta 200 所属单位： 盐城工学院 仪器原值： 141.10(万元) 启用日期： 2001/12/17 生产厂商： FEI公司 产地国别： USA.美国 安放地址： 中国,江苏省,盐城市,亭湖区 技术指标： 1. 分辨率：高真空模式下30 KV时，3.5 nm；低真空模式下30 KV时，3.5 nm；低真空模式下3 KV时，15 nm；ESEM环境真空模式下30 KV时，3.5 nm；2. 加速电压：20 kV；3. 灯丝：钨灯丝；4. 样品室真空：<6×10-4~2600 Pa（三种模式高真空，低真空，ESEM环境真空）；5. 真空系统：1个250 L/S分子涡轮泵、2个机械泵；6. 探测器：高真空模式E-T二次电子探头、低真空模式LF GSED二次电子探头、环境真空模式GSED二次电子探头、红外CC 功能及应用领域： 观察陶瓷、混凝土、生物、高分子、矿物、纤维等无机或有机固体材料表面、断口分析、粒度观察和分析；各种固体材料膜层厚度的测定、磨损表面形貌、变形层等的观察、相分析等。同时配有能谱仪，可对不同无机或有机固体材料表面或者断面的物相及微区元素成分同时进行定性和定量分析。 仪器联系人： 吴祺昶 联系人电话： 025-85485877