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粒子成像测速系统 |
分类编码: | 990000 |
英文名称: | The particle imaging velocimetry system |
规格型号: | *-3DPIV |
分 类: | 其他仪器 |
所属单位: | 浙江工业大学 |
仪器原值: | 107.50(万元) |
启用日期: | 2012/4/23 |
生产厂商: | 丹麦DANTEC DYNAMICS A/S |
产地国别: | 丹麦 |
技术指标: | 双脉冲激光器;激光器脉冲频率不小于15Hz;激光脉冲能量不小于135mJ/pluse;能量稳定度不大于2%;带有电动数字显示光学衰减器。光臂总长度2100mm;具有宏观PIV及内窥镜PIV两种片光源;宏观PIV片光源具有约10度及30度两种发散角;内窥镜片光源具有直视及90度侧视两种镜头。有效分辨率2048 x 2048;图形采集卡采用PCIe接口标准;跨帧时间不大于200ns;配有窄带滤光片,532nm±3nm;配有一对Scheimpflug支架及安装导轨;配有A4大小三维标定靶;除普通Nikon镜头外,还应配有相机内窥镜,具有最大50度视角。 |
功能及应用领域: | 1.非接触式测量。PIV技术不需要将测量传感器放入流场中就能很好的测量出结果;2.能瞬间测量某个时间的面或者整个流场;3.测量精度高,测速的范围很大;4.可以进行测量两相流,包括粒径测量等。 |
仪器联系人: | 屠立群 |
联系人电话: | 88320456 |
邮政编码: | 310014 |
电子邮件: | tuliqun@zjut.edu.cn |
参考收费标准: | 实验室标准 |