原子力显微镜 分类编码： 010899 英文名称： atomic force microscope 规格型号： Innova 分　　类： 分析仪器 所属单位： 浙江省现代计量测试技术与仪器重点实验室 仪器原值： 70.70(万元) 启用日期： 2016/12/9 生产厂商： 美国布鲁克股份有限公司 产地国别： 美国 技术指标： X-Y方向扫描范围：90um *90um典型值，最小85um Z方向扫描范围：10um典型值，在成像及力曲线模式下；最小9.5um 垂直方向噪音基底：<30pmRMS, 在合适的环境及典型的成像带宽（达到625Hz） X-Y定位噪音（闭环）：<0.15nm RMS，典型成像带宽（达到625Hz） X-Y定位噪音（闭环）：<0.10nm RMS，典型成像带宽（达到625Hz） Z传感器噪音水平（闭环）：<35pm RMS, 典型成像带宽（达到625Hz） 整体线性误差（X-Y-Z）：0.5% 典型值 功能及应用领域： 利用光学检测法可测得微悬臂对应于扫描各点的位置变化，从而可以获得样品表面形貌的信息 仪器联系人： 梁培 联系人电话： 86875622 邮政编码： 310018 电子邮件： zhangyingping@cjlu.edu.cn 参考收费标准： 根据实际情况面谈