透射电子显微镜 |
英文名称: | TEM | 规格型号: | JEM-2010 | 所属单位: | 南京工业大学 | 仪器原值: | 272.00(万元) | 启用日期: | 2003/1/9 | 生产厂商: | 日本电子公司 | 产地国别: | JPN.日本 | 安放地址: | 中国,江苏省,南京市,浦口区 | 技术指标: | 加速电压:200kV;分辨率:点分辨率0.194 nm,晶格分辨率0.143 nm; | 功能及应用领域: | 固体物质微结构研究;晶体结构及晶体缺陷分析;物质微区元素成分测定;先进材料制备方法、性能与结构关系的研究。 | 仪器联系人: | 吴祺昶 | 联系人电话: | 025-85485877 |
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