透射电子显微镜
英文名称:TEM
规格型号:JEM-2010
所属单位:南京工业大学
仪器原值:272.00(万元)
启用日期:2003/1/9
生产厂商:日本电子公司
产地国别:JPN.日本
安放地址:中国,江苏省,南京市,浦口区
技术指标:加速电压:200kV;分辨率:点分辨率0.194 nm,晶格分辨率0.143 nm;
功能及应用领域:固体物质微结构研究;晶体结构及晶体缺陷分析;物质微区元素成分测定;先进材料制备方法、性能与结构关系的研究。
仪器联系人:吴祺昶
联系人电话:025-85485877