设备图片
集成电路高温老化系统
分类编码:120304
英文名称:
规格型号:BTI-3000N
分  类:工艺实验设备
所属单位:中科院嘉兴中心微系统所分中心
仪器原值:30.00(万元)
启用日期:2006/2/7
生产厂商:德国制造
产地国别:0101
安放地址:
技术指标:GJB548(等同MIL-STD-883)、GJB 597(等同MIL-M-38510)
功能及应用领域:适用范围:适用于对各种数字、模拟、数模混合集成电路和SOC电路、微处理器、存储器等微 电子电路进行高温动态老化试验。
仪器联系人:张彦江
联系人电话:0573-82585210
电子邮件:
开放机时安排:每个工作日
参考收费标准: