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| 集成电路高温老化系统 |
| 分类编码: | 120304 | | 英文名称: | 无 | | 规格型号: | BTI-3000N | | 分 类: | 工艺实验设备 | | 所属单位: | 中科院嘉兴中心微系统所分中心 | | 仪器原值: | 30.00(万元) | | 启用日期: | 2006/2/7 | | 生产厂商: | 德国制造 | | 产地国别: | 0101 | | 安放地址: | | | 技术指标: | GJB548(等同MIL-STD-883)、GJB 597(等同MIL-M-38510) | | 功能及应用领域: | 适用范围:适用于对各种数字、模拟、数模混合集成电路和SOC电路、微处理器、存储器等微 电子电路进行高温动态老化试验。 | | 仪器联系人: | 张彦江 | | 联系人电话: | 0573-82585210 | | 电子邮件: | | | 开放机时安排: | 每个工作日 | | 参考收费标准: | |
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