场发射扫描电子显微镜 |
分类编码: | 010102 | 英文名称: | Field Emission Scanning Electron Microscopy | 规格型号: | JSM-6701F | 所属单位: | 复旦大学 | 仪器原值: | 130.18(万元) | 启用日期: | 2008/10/18 | 生产厂商: | 日本电子 | 产地国别: | 日本 | 技术指标: | SEM分辨率:1.0nmat15kV;
2.2nmat1kV
SEM加速电压:0.5kV-30kV
SEM放大倍数:25-650K
能谱分析仪:布鲁克Quantax5020
能量分辨率:<130eV(MnKa)
元素范围:Be4-Pu94 | 功能及应用领域: | 主要应用于金属材料、纳米材料、半导体材料等各种材料的显微微结构观察与成分分析。 | 仪器联系人: | 王旭 | 联系人电话: | 15618977660 | 电子邮件: | wangxums@fudan.edu.cn | 参考收费标准: | 600 |
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