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场发射扫描电镜热场Sirion200(SEM5) |
分类编码: | 010899 | 英文名称: | Field emission scanning electron microscope thermal field Sirion200(SEM5) | 规格型号: | Sirion 200 | 所属单位: | 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 | 仪器原值: | 250.40(万元) | 启用日期: | 2013/7/11 | 生产厂商: | 美国FEI | 产地国别: | 美国 | 技术指标: | 分辨率在加速电压5kv下为3.0nm,10kv下2.0nm,5kv下1.0nm | 功能及应用领域: | 在各种操作模式下分析导电和不导电样品,得到二次电子像和背散射电子像。对多种样品都可以进行EDS分析工作的快速、准确。电镜可作为一个微观实验室。对多种样品保持其原始状态下进行动态原位分析。对导电样品,可选用减速模式得到表面和成份信息。 | 仪器联系人: | 蒋蓉蓉 | 联系人电话: | 0574-86685247 | 邮政编码: | 315201 | 电子邮件: | jiangrr@nimte.ac.cn | 参考收费标准: | 150/样(超过一个机时的按300/机时收取) |
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