高分辨扫描电镜 英文名称： High Resolution Scanning Electron Microscope 规格型号： Quanta 200 FEG 所属单位： 苏州大学 仪器原值： 142.69(万元) 启用日期： 2008/12/26 生产厂商： FEI 公司 产地国别： USA.美国 安放地址： 中国,江苏省,苏州市,吴中区 技术指标： 高真空- 0.8nm at 30kV (STEM)  - 1.2nm at 30kV (SE)  - 2.5nm at 30kV (BSE) - 3.0nm at 1kV (SE) 低真空 - 1.5nm at 30kV (SE)  - 2.5nm at 30kV (BSE) - 3.0nm at 3kV (SE) □ 加速电压: 200V – 30kV  □ 电流: up to 100nA GENESIS XM2 for SEM 扫描电镜能谱仪Si(Li) 液氮制冷型，超薄窗口，晶体活区面积 10mm2 功能及应用领域： 该设备用于研究材料的纳米及软物质材料的表面性质及进行化学成分的分析。谱定性分析：可自动标识谱峰，可进行谱重构，对重叠峰进行峰剥离；具有可判定定性分析准确性的HPD功能。谱定量分析：采用ZAF无标样定量计算；具备定量面分布检测功能线扫描和面扫描：能与电镜主机系统配合实现元素线扫描和面扫描分析功能。 仪器联系人： 吴祺昶 联系人电话： 025-85485877